分子筛与多孔材料化学(徐如人编著)
图 9－31SBA－6TEM 成像及其傅立叶衍射图（引自文献279）多数的介孔结构都是根据吸附等间接实验证据，以及溶致液晶的结构或是理论模型推断出来 的。现在电子显微术可以更直接的用来分析介孔结构。Terasaki 等人[279]在此方面作了许多工作， SBA－6 就是其中一个典型的代表。 SBA－1 和 SBA－6 的 XRD 谱图可以被指标化为 Pm 3 n 对称性，但对称性并不是结构，其结构 还是未知的，我们只是使用溶致液晶 Pm 3 n 相所对应的结构来代表 SBA－1 和 SBA－6 的结构。由 于 Pm 3 n（223）和 P 4 3n（218）具有相同的消光条件，因此只靠 XRD 方法是不能区分它们的。 根据 SBA－1 近乎完美的“晶体”形貌可以断定其具有 m 3 m 点群对称性，而 P 4 3n 的点群对称性 为 4 3m，因此 Pm 3 n 是正确的。在由高分辨 TEM 像（见图 9－31）的傅立叶变换衍射图中观察到This is trial version http://www.70edu.com第 51 页
