射频杂散的测试环境搭建及测试方法说明 - 图文

2025-08-09

射频杂散的测试方法

传导杂散骚扰(Conduct Spurious Emissions),

发信机的杂散辐射是指:发信机正常工作时,除了发射出工作频段有用的射频外,还有其他的非有用的射频信号,这些无用信号会对其他的设备产生不良的干扰。

目的:检测手机天线端的离散辐射功率是否符合GSM规范及国家行业标准。国标对杂散的要求是全频段的,鉴于手机的特殊性,最高的杂散点会出现在发射频点的二次三次等多次谐波上,所以本测试把重点集中在这些频点的测试上。 测试要求

使用设备:

所用设备:RATT工具 待测机器 射频线 衰减器 滤波器(VHF-1300+,VHF-2700+) 频谱分析仪HP8596E 标准信号源Agilent83712B,综合测试仪CMU200

图1 1.3G高通滤波器和2.7G高通滤波器

图2 衰减器 图3 频谱分析仪及标准信号源

方法一:使用功分器与综测仪测试

这里使用了一个10db的定向耦合器来作为功率采样,

图9 10db定向耦合器

1,测试实际连线框图如下:

MS衰减器功分器综测仪滤波器频谱分析仪

滤波器需要根据测试的频段,来进行选择。测试GSM900频段时,选用VHF-1300+(1.3G高通滤波器)测试DCS1800频段时选用VHF-2700+(2.7G高通滤波器) 测试步骤:

2,测试通道的线损测试方法

线损的测试可以用网络分析仪,也可以用信号源和频谱测试仪来进行点频测试。这里采用信号源和频谱仪的测试方法:

图12 测量线损

测试线损时注意:

耦合器空的一端需要加一个50欧的负载 需要包含衰减器和电缆一起测试

耦合器的直通端是提供给CMU200检测输出功率用的,线损只要测试工作频率 10db口的线损测量需要连接相应的高通滤波器一起测试,主要测试相应的二次和三次谐波点的损耗。

注意定向耦合器是有方向的,所以信号源要接输入口 3,测试步骤

按测试的框图搭建测试环境,如下图:

图10 功分器及综测仪测量二次谐波

图11 实际连接图

综测仪安测试的线损设置好补偿,

首先通过综测仪与手机建立呼叫,调整到该频段的中间信道,设置使手机以最大功率发射,通过综测仪监视手机输出功率确实符合要求。

设置频谱仪测试测量需要测试的频点(二次谐波点或三次谐波点),采用最大保持的方式来捕捉杂散的功率值,

记录和计算实际的杂散测试值。

方法二:使用RATT工具

在没有适当工分器的情况下,可以使用强制被测机发射的方式来测试发射的杂散。

1,连接框图如下图:

MSDWLCable衰减器滤波器频谱分析仪PC & RATT

图4 RATT测试连接框图

2,测量线损

连接衰减器和高通滤波器,和必要的馈线一起连接到标准信号源,和频谱仪,信号源并输出相应的频率,测试出相应频点的损耗。GSM900&850频段的二三次谐波的频率点选择1800MHz以及2700MHz。实际连接线路如下图:

图8 测量线损

注意:必须注意连接手机的射频线的线损加进去


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