X射线探伤工艺守则
ZD/JY-
1. 探伤执行标准JB/4730.2-2005《承压设备无损检测》。 2. X射线探伤质量分级采用AB级。
3. 在X射线探伤前，对接接头的外观表面质量应经外观表面质量检查合格。表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对表面做适当处理。
4. 射线照相胶片用T3类（例天津Ⅲ型）或更高类别的胶片，且胶片灰雾度不大于0.3
5. 增感屏选用铅箔增感屏
前屏后度：0.02-0.15 后屏厚度：0.02-0.15
6. 按透照厚度和象质别级AB级所须达到的象质指数按表1、表2、表3的规定
表1 单壁透照象质计置于源侧 公称厚度 ＞3.5～5.0 ＞3.5～5.0 ＞7.0～10 ＞10～15 ＞15～25 丝径（mm） 15（0.125） 14（0.160） 13（0.200） 12（0.250） 11（0.320） 表2双壁双影透照象质计置于源侧 公称厚度 ＞3.0～4.5 ＞4.5～7.0 ＞7.0～11 ＞11～15 ＞15～22 丝径（mm） 15（0.125） 14（0.160） 13（0.200） 12（0.250） 11（0.320） 表3双壁双影或双壁单影透照象质计置于胶片侧 公称厚度 ＞3.5～5.5 ＞5.5～11 ＞11～17 ＞17～26 ＞26～39 丝径（mm） 15（0.125） 14（0.160） 13（0.200） 12（0.250） 11（0.320） 7透照厚度的选择按表4的规定
单位（mm） 表4 透照厚度的选择 （ T1为射线源侧母材公称厚度） 透照方式 母材公称厚度 接头形式 W透照厚度的选择 T 单面焊 T 单壁透照 T 双面焊 T T 单面焊带垫板 T T 单面焊 T + T1 双壁透照 T 单面焊 T + T1 T 单面焊带垫板 T + T1 8像质计的使用
8.1 像质计一般应放置在工件源侧表面焊接接头的一端（在被检区长度的
不加余高 1/4
左右位置），金属丝应横跨焊缝，细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。 8.2 像质计放置原则
a）单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照规定像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。
b）单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧 。
c）单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进行对比实验。对比实验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像质计，用与工件相同的条件，测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异，以此修正应识别像质计丝号，以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。
d）当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。 8.3 原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一次曝光完成多张胶片照相时，使用的像质计数量允许减少但应符合以下要求：
a）环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔地放置3个像质计。
B）一次曝光连续排列多张胶片时，至少第一张、中间一张、最后一张胶片放置1个像质计。
9.透照方式：典型透照方式参照图1～图8
10.对初次制定的检测工艺，或使用中检测工艺的条件、环境发生改变时，应进行背散射防护检查。
检查背散射防护的方法是：在暗盒背面贴附“B”铅字标记，一般“B”铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm，按检测工艺的定规进行透照和暗室处理。若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护不够，应增大背散射防护铅板的厚度。若底片上不出现“B”字影像或出现度高于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护符合要求。
→，搭接标记↑11.底片上应有中心标记↑，产品编号，底片号 ，像质计，‘返
修标记（R1、R2?指返修次数），及透照日期，标记离对接接头边缘5mm，工件
表面上也应作永久标记，工件表面上不适应作永久标记时，应采用透照部位图或其他方法进行定位。
12.一次透照长度的选择应符合允许透照厚度比见表5
表5一次透照长度的选择 射线检测技术级别 AB级 纵缝焊接接头 K≤1.03 环缝焊接接头 K≤1.1 对于100＜D0≤400环缝焊接接头（包括曲率相同曲面焊接接头）K值允许≤1.2
13.纵缝透照规范的选择（单壁单影）
设备型号：XX2005型，管电流5mA ，焦距750mm，曝光时间3分钟，板厚与管电压的关系见表6。
表6板厚与管电压的关系 （管电压KV ） 板厚mm 6 8 10 12 14 16 管电压 155 160 165 170 175 180 14. 常用双壁单影环缝透照规范的选择按表7的规定，设备型号：XX2005型，管电流5mA ，
表7常用双壁单影环缝透照规范的选择 母材厚度（mm） 垫板厚度（mm） 透照厚度（mm） 焦距（mm） 管电压（KV ） 曝光时间（分） 600 200 3 750 210 3 600 220 3 8 4 22 750 230 4 600 230 4 10 4 26 750 240 4.5 600 240 4.5 12 4 30 750 240 5 600 240 5 14 4 34 750 240 6 15.射线透照底片有效评定区域黑度值应满足以下规定 AB级：2.0≤D≤4.0
16.常用双壁单影环缝一次透照长度的选择按表8的规定，设备型号：XX2005型，管电流5mA ，
图1～图8给出了常用的典型透照方式示意图，可供透照布置时参考。图中d表示射线源，b表示工件至胶片距离，f表示公称厚度，D0表示管子外径。
表8常用双壁单影环缝一次透照长度的选择 6 4 18 规格 （mm） 100％探伤一次透照长度（mm） 100％探伤一次透照次数（次） 20％探伤一次透照长度（mm） 20％探伤一次透照次数（mm） φ159×6 84 6 84 3 φ219×10 115 6 86 3 φ273×10 172 5 125 2 φ325×10 204 5 135 2 φ377×10 237 5 135 2 φ426×10 268 5 268 1 φ470×10 295 5 295 1 φ500×6 330 5 330 1 φ≥600 环缝一次透照长度≤320mm 图1.纵、环焊接接头源在外单壁透照方式 图2纵、环向焊接接头源在内单壁透照方式
↑
b↑f F↑↑↑??pp↑
q
dd↑↑f ↑??↑F 图3环向焊接接头源在中心周向 图4环向焊接接头源在外双壁单影
透照方式 透照方式 ↑
pp
图5环向焊接接头源在外双壁单影 图5纵向焊接接头源在外双壁单影
透照方式 透照方式
p↑pp
f q
↑↑F??↑f
图7小径管环向对接焊接接头倾斜 图8小径管环向对接焊接接头垂直 透照方式（椭圆成像） 透照方式（重叠成像）
p ↑↑??↑f f ↑↑D↑q↑q0
17.暗室处理
在暗室处理的每一个程序中应保证使胶片不产生机械损伤或影响底片观察的伪缺陷。
17.1将曝光的胶片浸入显影液中，均匀搅动，显影温度 20±2℃时间为3～6分钟。
↑↑↑↑ ↑FF↑↑??D0p↑
qpq↑p↑
↑f ↑??↑Ff ↑ppq↑F↑↑↑17.2将经显影的底片防入水中均匀搅动。
17.3将经中间水洗的底片浸入20±2℃的定影液中均匀搅动，定影时间为10分钟。
17.4将经定影的底片放入流动清水中冲洗，适当翻动，以免底片重叠及产生影响片观察的伪缺陷，冲洗时间30分钟。
17.5将经水洗的底片在阴凉处自然干燥。 18对接接头底片质量检测分级
18.1根据对接接头中存在的缺陷性质、数量及密集程度，其质量等级可分为、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级
a.级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未溶合、未焊透和条形缺陷。 b. Ⅱ级、Ⅲ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未溶合、和条形缺陷。 c.对接焊接接头中存在的缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。 d.当各类缺陷评定的质量级别不同时，以质量最差的级别作为对接接头的质量分级。
18.2圆形缺陷的质量分级
圆形缺陷用圆形缺陷评定区进行质量分级评定，圆形缺陷评定区为一个与一个焊缝平行的矩形，其尺寸见表9 。圆形缺陷评定区应选在缺陷最严重的区域。
表9缺陷评定区 母材公称厚度 ≤25 评定区尺寸 10×10 18.3在圆形缺陷评定区或与圆形缺陷评定区边界相割的缺陷均应划入评定区内。将评定区的内缺陷按表10的规定评定对接焊接接头的质量级别。
表10缺陷点数换算表 缺陷长径《1 〉1～2 〉2～3 〉3～4 〉4～6 6〉～8 〉8 mm 缺陷点数 1 2 3 6 10 15 25 18.4当缺陷尺寸小于表11的规定时，分级评定使不计该缺陷的点数。质量等级为Ⅰ级的对接焊接接头和母材公称厚度T《5mm的Ⅱ级对接焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于10个，超过时对接焊接接头质量等级应降低一级。
表11各级别允许的圆形缺陷点数 评定区（mm×mm） 10×10 母材公称厚度T，mm 10 〉10～15 〉15～25 Ⅰ级 1 2 3 Ⅱ级 3 6 9 Ⅲ级 6 12 18 Ⅳ级 缺陷点数超过Ⅲ级或长径大于T/2 注：当母材公称厚度不同时，取较薄者的厚度。 表12不计点数的缺尺寸 母材公称厚度T，mm 缺陷长径 《25 《0.5 18.5条形缺陷的 条形缺陷按表13的规定进行分级评定。
级别 Ⅰ Ⅱ 表13各级别对接接头允许的条形缺陷长度 单个条形缺陷最大一组条形缺陷累计最大长度 长度 不允许 在长度为12T 的任意选定条形缺陷评定区内，相《T/3（最小可为4）邻缺陷间距不超过6L的任一组 条形缺陷累计长且《20 度，应不超过T ，但最小可为4 在长度为6T 的任意选定条形缺陷评定区内，相邻《2T/3（最小可为6）缺陷间距不超过3L的任一组 条形缺陷累计长度，且《30 应不超过T ，但最小可为6 大于Ⅲ级者 Ⅲ Ⅳ 注1：L为该组条形缺陷中最长缺陷本身的长度， T为母材公称厚度，当母材公称厚度不同时，取较薄者的厚度值。
注2：条形缺陷评定区是指与焊缝方向平行、矩行区，T《25mm， 宽度为4mm；25mm〈T〈100，宽度为6mm；T〉100mm，宽度为6mm。
注3：当两个或两个以上条形缺陷处于同一直线上，且相邻缺陷的间距小于或等于较短缺陷长度时，应作为一个缺陷处理 ，且间距也应计入缺陷的长度之中。
18.6 综合评级
18.6.1在圆形缺陷评定区同时存在和条形缺陷时，应进行综合评级
18.6.2综合评级的级别如下缺定：对圆形缺陷和条形缺陷分别评定级别，将两者级别之和减一作为综合评级的质量分级。
